HEIDENHAIN海德汉产品线
在后面几页中，您将了解到海德汉公司各产品线的概要信息。 在“长度测量”和“角度测量”处，可看到位置测量设备，例如直线光栅尺，长度计，角度编码器和旋转编码器，包括绝对式和增量式，工业应用和实验室应用的产品。
机床数控系统处提供了海德汉铣床和车床的轮廓加工数控系统，一方面它们设计用于车间应用，另一方面这些数控系统也适用于自动化生产线，例如带刀库和托盘库的自动化加工中心。 “设置和测量”部分，有用于缩短机床设置时间的测头，也用于高精密机床检验和验收测试的测头。
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HEIDENHAIN海德汉|海德汉光栅尺|海德汉编码器- 授权代理经销商
发布时间：2013-06-22 点击率：1926
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今日HEIDENHAIN海德汉
海德汉公司目前在49个国家和地区设有办事机构，绝大多数是全资的子公司。销售工程师和维修技术人员可以为您提供技术信息和进行现场的服务。
海德汉的高质量标准是经过ISO 9001质量体系和德国标准服务(DKD)针对长度和角度检查工序认证的。另一方面，我们长的产品寿命，可再利用的设计理念，对于资源的小心仔细利用和最有效化使用能源是基于ISO 14001标准的。
特殊的生产设施和测量设备造就了海德汉的高质量产品。光刻的主要和次主要生产过程都是在洁净室里完成的，在洁净室里配备了特殊的温度稳定和防振动隔离装置。仿形机和其它生产直线和角度刻线用的机械设备都是由海德汉自己研发和制造的。
现在，HEIDENHAIN海德汉还意味着：
对话格式编程语言的TNC数控系统已成为欧洲模具行业的标准系统 |
海德汉提供全系列绝对式和增量式旋转编码器，直线光栅尺和角度编码器 |
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HEIDENHAIN公司历史和产品发展的里程碑
公司源自1889年威廉·海德汉在德国柏林创建的金属蚀刻工厂。 生产模板，标牌，刻度尺和标尺。 二战期间工厂被毁，威廉·海德汉的儿子在地处德国特劳恩罗伊特创建约翰内斯·海德汉博士公司（DR. JOHANNES HEIDENHAIN）。 最初的产品也是刻度尺和零售用的计价秤。 不久后开始生产机床的光学位置测量系统。 六十年代初期开始转向生产光电扫描的直线光栅尺和角度编码器。 这些发展促成了制造业中许多机器和设备的自动化。
七十年代中期以后，海德汉公司已成为机床数控系统和驱动系统的重要制造商。
自公司创建始，一直秉持技术发展之路。 为保持公司持续发展和技术领先地位，1970年约翰内斯·海德汉博士用其持有的公司股份转入基金会。 这使今天的海德汉公司可投入大量资金进行研发。
HEIDENHAIN历史上的里程碑
1889 | 威廉·海德汉在德国柏林创建金属蚀刻公司 |
1923 | 约翰内斯·海德汉博士加入其父亲的公司 |
1928 | 发明METALLUR硫化铅复制技术 |
1948 | 约翰内斯·海德汉博士公司在德国特劳恩罗伊特成立 |
1950 | 发明DIADUR技术 |
1970 | 成立非盈利的DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG公司 |
1980 | 约翰内斯·海德汉博士去世 |
2012 | 海德汉在全部工业化国家设立代表处 |
HEIDENHAIN计量项目
1961 | 光电扫描测量显微镜 |
1966 | 为德国联邦物理技术研究院（PTB）提供干涉比较仪 |
1971 | 为PTB提供角度测量台和圆光栅检测设备 |
1977 | 为PTB提供高精度纳米尺 |
1989 | 新技术望远镜（NTT）的角度编码器 |
1999 | 超大型望远镜（VLT）的角度编码器 |
1999 | 多个国家计量院间国际NANO-3长度比对测量的直线光栅尺 |
2001 | 为PTB提供纳米干涉比较仪 |
2003 | 海德汉，PTB与AIST（日本产业技术综合研究所）间角度比对测量 |
2004 | 海德汉，PTB与MITUTOYO间长度比对测量 |
2005 | 海德汉与PTB间角度比对测量 |
HEIDENHAIN光栅技术重要阶段
1936 | 用照相制版生产玻璃光栅尺，精度± 0.015 mm |
1943 | 用复制技术生产圆光栅，精度± 3秒 |
1952 | 重量秤成为主要收入来源 |
1967 | 自持光栅，显微结构 |
1985 | 增量式直线光栅尺的距离编码参考点 |
1986 | 相位光栅 |
1995 | 二维编码器格栅 |
2002 | 干涉扫描直线光栅尺的平面相位光栅 |
2005 | 抗污染的幅值光栅，激光烧蚀法生产 |
2009 | 大型二维格栅（400 mm x 400 mm），用于半导体工业的测量系统 |
HEIDENHAIN编码器的里程碑：光栅尺
1952 | 机床的光学直线光栅尺 |
1961 | LID 1增量式直线光栅尺，栅距8 µm / 测量步距2 µm |
1963 | LIC绝对式直线光栅尺，18条刻轨，纯二进制码 / 测量步距5 µm |
1965 | 激光干涉仪，用于机床校准 |
1966/1968 | LIDA 55.6全封闭增量式直线光栅尺，钢尺 |
1987 | LS 101全封闭增量式直线光栅尺，测量步距0.1 µm |
1987 | LS 101敞开式干涉扫描直线光栅尺，测量步距0.02 µm |
1989 | LS 301敞开式干涉扫描直线光栅尺，测量步距1 nm |
1994 | LC 181全封闭绝对式直线光栅尺，7条刻轨，EnDat接口，测量长度3 m，测量步距0.1 µm |
1996 | LC 481全封闭绝对式直线光栅尺，2条刻轨，伪随机码，EnDat，测量长度2 m，测量步距0.1 µm |
2005 | LC 183全封闭绝对式直线光栅尺，伪随机码，EnDat 2.2，测量长度4 m，测量步距0.005 µm |
2008 | LIP 200干涉扫描直线光栅尺，信号周期0.512 µm，最高运动速度3 m/s |
2010 | LIC 4000绝对式敞开直线光栅尺，2条刻轨，伪随机码，EnDat 2.2，最大测量长度27 m和分辨率1 nm |
2011 | LC 200全封闭绝对式直线光栅尺，最大测量长度28 m，伪随机码，最高分辨率10 nm |
HEIDENHAIN编码器的重要阶段：HEIDENHAIN角度编码器
1952 | 光学角度编码器 |
1957/1961 | ROD 1光电扫描角度编码器，每圈40,000个信号周期，10,000线 |
1962 | ROD 1每圈72,000个信号周期 |
1964 | ROC 15绝对式角度编码器 / 分辨率17 bits |
1975 | ROD 800增量式角度编码器，精度± 1秒 |
1986 | RON 905增量式角度编码器，精度± 0.2秒 |
1997 | RCN 723绝对式角度编码器，空心轴带定子联轴器版，单圈23 bit，EnDat接口，精度± 2秒 |
2000 | ERP 880干涉扫描角度编码器，每圈180,000个信号周期，精度± 0.2秒 |
2004 | RCN 727绝对式角度编码器，空心轴，最大直径100 mm |
2009 | ROP 8080晶片测针的干涉扫描角度编码器，有承载功能的角度编码器，每圈360,000个信号周期 |
2011 | ERP 1080微型干涉扫描角度编码器，单芯片的编码器结构 |
HEIDENHAIN编码器重大事件： HEIDENHAIN旋转编码器
1957/1961 | ROD 1增量式光电扫描旋转编码器，10,000线 |
1964 | ROD 2 / ROD 4系列增量式标准旋转编码器 |
1981 | ROD 426增量式旋转编码器： 工业标准 |
1987 | ROC 221 S绝对式多圈编码器，单圈12 bit，多圈9 bit |
1992 | ERN 1300伺服驱动的增量式旋转编码器，最高工作温度120 °C |
1993 | ECN 1300和EQN 1300绝对式单圈和多圈旋转编码器 |
1997 | ERM 100模块式磁栅旋转编码器 |
2000 | EQN 1100微型绝对式多圈旋转编码器，板载芯片技术 |
2000 | ECN 100绝对式单圈旋转编码器，最大空心轴直径50 mm |
2004 | ECI 1100和EQI 1100微型绝对式单圈和多圈旋转编码器，感应扫描 |
2007 | 有“功能安全特性” SIL2/PL d和EnDat 2.2接口的绝对式旋转编码器 |
HEIDENHAIN数控和电子的里程碑
1968 | VRZ 59.4单轴双向计数器 |
1974 | HEIDENHAIN 5041数显装置 |
1976 | TNC 110和TNC 120 3轴数字位置控制系统 |
1979 | TNC 131 / TNC 135 简易数控系统 |
1981 | TNC 145 3轴数控系统 |
1984 | TNC 155 4轴数控系统，带工件加工中图形仿真功能 |
1995 | EnDat绝对位置编码器的同步串行接口 |
1996 | TNC 426配数字驱动的5轴数控系统 |
1996 | TNC 410 MA海德汉全套变频器和电机 |
2004 | iTNC 530配新型smarT.NC操作模式的数控系统 |
2007 | TNC 620配串行数控接口HSCI的数控系统 |
2011 | TNC 640铣车复合加工数控系统 |
